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3D 粗糙度重建系統

更新時(shí)間:2024-01-02
產(chǎn)品型號:
所屬分類(lèi):拓展軟件
描述:通過(guò) 3D 粗糙度重建系統軟件,飛納臺式掃描電鏡能夠產(chǎn)生二維圖像和進(jìn)行亞微米粗精度測量從一個(gè) 2D 平面圖像里區分凹痕,劃痕,毛刺等通常很閑難。3D 圖像直觀(guān),能被大多數用戶(hù)接受并能更好的解釋樣品特點(diǎn)。測量平均粗糙度和粗糙高度對于了解和控制生產(chǎn)過(guò)程很關(guān)鍵,相對于傳統的(間接) 測量手段,3D 粗精度重建軟件通過(guò)分析電鏡圖像,能夠獲得更高的精度。
詳情介紹

借助 3D 粗糙度重建系統,飛納臺式掃描電鏡(SEM)可以生成樣品的三維圖像,并進(jìn)行亞微米量級的粗糙度測量?;凇瓣幱帮@形"技術(shù),3D 成像有助于展示樣品特征。

3D

3D 圖像可以幫助用戶(hù)更好地理解樣品特點(diǎn),使得在 2D 圖像中很難分辨的凹坑、劃痕、刻紋等特征,變得清晰可見(jiàn)。 

粗糙度 

平均粗糙度(Ra)及粗糙高度(Rz)的測量對于生產(chǎn)工藝的控制和改進(jìn)具有重要意義。使用 SEM 圖像作為信息收集手段,可以獲得比傳統(非直接)手段更佳的分辨率。3D 粗糙度重建模塊是飛納臺式掃描電鏡的理想擴展,特別適用于下列領(lǐng)域: 

• 機械加工的質(zhì)量控制 

• 紋理分析 

• 證物鑒定 

• 缺陷 & 失效分析 

• 摩擦學(xué)-磨損分析

3D 粗糙度重建系統可在包含多個(gè)飛納臺式掃描電鏡(SEM)特定應用程序的 Phenom ProSuite 中獲得。 

3D 粗糙度重建系統的主要優(yōu)點(diǎn):

 • 遠優(yōu)于光學(xué)或機械測量手段 

    - 高分辨率

    - 可測量反光樣品 

    - 直接測量

    - 非破壞性 

• 創(chuàng )新性全自動(dòng)用戶(hù)界面 

• 基于“陰影顯形",無(wú)需傾斜樣品 

• 完整解決方案 

• 快速重建

• 直觀(guān)的用戶(hù)界面

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